日本OTSUKA玉崎科学供应大冢FE-300光学膜厚量测仪$n日本OTSUKA玉崎科学供应大冢光学膜厚量测仪$n这是一款小型、低成本的膜厚计，采用高精度光学干涉法测量膜厚，操作简单。$n我们采用一体式外壳，将必要的设备存储在主体内，实现稳定的数据采集。$n尽管价格低廉，但也可以通过获得绝对反射率来分析光学常数。

OTSUKA日本大塚电子高灵敏度光谱HS-1000辐射计$nOTSUKA日本大塚电子高灵敏度光谱辐射计$n这是一款光谱辐射亮度计，可以从低亮度到高亮度进行高速且高精度的测量。$n利用热电冷却线性阵列传感器，大冢电子光谱光学设计和信号处理电路在宽亮度和波长范围内实现了低噪声、高精度测量。

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大塚电子ELSZneoSE粒度测量系统陶瓷色料半导体领域 大塚电子粒度测量系统陶瓷色料半导体领域 特征 可根据应用添加功能（分子量测量、颗粒浓度测量、微流变测量、凝胶网络结构分析、粒径多角度测量）。 使用标准流通池连续测量粒径和 zeta 电位 能够测量从稀溶液到浓溶液 (~40%) 的各种浓度的颗粒尺寸和 zeta 电位 可以在高盐浓度下测量扁平样品的 Zeta 电位。 可在 0 至 90℃

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