日立电子显微镜聚光镜球差电镜

简要描述：

日立 HF5000 电子显微镜聚光镜球差电镜
日立电子显微镜聚光镜球差电镜

特点
标配日立生产的照射系统球差校正器（附自动校正功能）
搭载具有高辉度、高稳定性的冷场FE电子枪
镜体和电源等的高稳定性使机体的性能大幅度提升
观察像差校正SEM/STEM图像的同时观察原子分辨率SE图像
采用侧面放入样品的新型样品台结构以及样品杆
支持高立体角EDX的对称配置（对称Dual SDD）
采用全新构

产品型号：HF5000
厂商性质：经销商
更新时间：2024-08-08
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日立hitachi

电子显微镜原子力显微镜高效液相色谱仪紫外分光光度计原子吸收光度计荧光分光光度计

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日立电子显微镜聚光镜球差电镜

特点

标配日立生产的照射系统球差校正器（附自动校正功能）
搭载具有高辉度、高稳定性的冷场FE电子枪
镜体和电源等的高稳定性使机体的性能大幅度提升
观察像差校正SEM/STEM图像的同时观察原子分辨率SE图像
采用侧面放入样品的新型样品台结构以及样品杆
支持高立体角EDX*的对称配置（对称Dual SDD*）
采用全新构造的机体外壳盖
配备日立生产的高性能样品杆*

*选项

高辉度冷场FE电子枪×高稳定性×日立制球面像差校正器

以长年积累起来的高辉度冷场FE电子源技术为基础，进行优化，进一步实现电子枪的高度稳定性。
此外，还更新了镜体，电源系统和样品台，以支持观察亚Å图像，并提升了机械和电气稳定性，然后与日立公司的球差校正器结合使用。

不仅可以稳定地获得更高亮度更精密的探头，而且自动像差校正功能可以实现快速校正，从而易于发挥设备的固有性能。使像差校正可以更实用。

日立电子显微镜聚光镜球差电镜

Si（211）单晶体HAADF-STEM图像（左）和图像强度曲线分布（右下）、FFT功率谱（右上）

支持高立体角EDX的对称Dual SDD

支持双重配置100 mm2 SDD检测器，以实现更高的灵敏度和处理能力进行EDX元素分析。
由于第二检测器位于第一检测器的对面位置，因此，几乎不会因为样品倾斜，导致X射线中的信号检测量发生变化。所以，即使是结晶性样品，也不用顾忌信号量，可按照样品的方向与位置进行元素分析。
此外，对于电子束敏感样品、低X光辐射量的样品，除了原子列映射，在低倍、广视野的高精细映射等领域也极为有效。

日立电子显微镜聚光镜球差电镜

GaAs（110）的原子柱EDX映射

像差校正SEM图像/STEM图像　同时观察

配有标配二次电子检测器，可同时观察像差校正SEM/STEM图像。通过同时观察样品的表面和内部结构，可以掌握样品的三维构造。
在像差校正SEM图像中，除了可以通过校正球差来提高分辨率之外，还可以获取更真实地样品表面图像

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特点

高辉度冷场FE电子枪×高稳定性×日立制球面像差校正器

支持高立体角EDX的对称Dual SDD

像差校正SEM图像/STEM图像　同时观察

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特点

高辉度冷场FE电子枪×高稳定性×日立制球面像差校正器

支持高立体角EDX*的对称Dual SDD*

像差校正SEM图像/STEM图像 同时观察

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支持高立体角EDX的对称Dual SDD

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