玉崎科学日本SANKO三高 SL-200E膜厚计电磁式模拟
玉崎科学日本SANKO三高 膜厚计电磁式模拟

高性能小型二极型...甚至可以测量狭小的地方和内部

玉崎科学日本SANKO三高 膜厚计电磁式模拟

玉崎科学日本SANKO三高 膜厚计电磁式模拟

高性能小型二极型...甚至可以测量狭小的地方和内部

特长

小探头适用于测量平面、曲面、圆棒、零件、复杂形状、内表面的局部涂层厚度。

规格

测量范围

Ⅰ：0～50μm Ⅱ：0～500μm

测量精度

均匀表面上±1μm或指示值的±2%

电源

DC：AA 电池 (1.5V) x 8

AC：100V，50/60Hz（使用交流适配器）

使用温度

0～40℃（无凝结）

飞机尺寸

190(宽)×90(高)×120(深)毫米

重量

1.8公斤

配件

标准厚板、AC适配器、肩包

探测

2极型，磁极直径φ2.5，磁极间距5mm

尺寸：10(W) x 17(H) x 21(D)mm

测量范围
: 0 ～ 50 µm : 0 ～ 500 µm
测量精度
: 均匀表面上±1 µm 或示值的±2%
探头
2 极型、磁极直径 φ2.5、极间距 5 mm 尺寸 : 10 (W ) × 17 (H) × 21(D)mm
电源
DC: AA 电池 (1.5V) x 8 AC: 100V, 50/60Hz (使用 AC 适配器)
工作温度
0 至 40℃ (无冷凝)
尺寸 重量
190( W) x 90(H) ) x 120(D)mm, 1.8kg
配件：
标准厚板、AC适配器、肩包。封面