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日本OTSUKA玉崎科学供应大冢FE-300光学膜厚量测仪$n日本OTSUKA玉崎科学供应大冢光学膜厚量测仪$n这是一款小型、低成本的膜厚计,采用高精度光学干涉法测量膜厚,操作简单。$n我们采用一体式外壳,将必要的设备存储在主体内,实现稳定的数据采集。$n尽管价格低廉,但也可以通过获得绝对反射率来分析光学常数。